CVE-2018-13888
3Vexday Risk Score
Sin señal de explotación. Ningún artefacto público de explotación conocido hasta ahora.
ssvc Trackepss 0.2%
probabilidad de explotación
0.2%top 87% de las CVE
explotación observada
noninguna fuente lo reporta
There is potential for memory corruption in the RIL daemon due to de reference of memory outside the allocated array length in RIL in Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables in versions MDM9206, MDM9607, MDM9635M, MDM9650, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 625, SD 636, SD 650/52, SD 675, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SD 855, SDM439, SDM630, SDM660, ZZ_QCS605.